Exame de Qualificação do mestrando

Detecção de plantas daninhas em lavouras por modelos baseados em atenção e integração de dados multiespectrais

Apresentador : Thiago Mantovani Martins


Data: 12/08/2026
Horário: 14:00
Local: Sala 600B do Departamento de Computação e Matemática
Curso alvo : Programa de Pós-Graduação em Computação Aplicada

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